Produkt-Details
Place of Origin: China
Markenname: zmsh
Zahlungs-u. Verschiffen-Ausdrücke
Material: |
> 99,99% Saphirkristall |
Durchmesser: |
200 mm±0,2 mm |
Thickness: |
725±25um |
Orientation: |
C-Plane <0001> |
TTV: |
≤15um |
WRAP: |
≤30um |
BOW: |
-30~10um |
Material: |
> 99,99% Saphirkristall |
Durchmesser: |
200 mm±0,2 mm |
Thickness: |
725±25um |
Orientation: |
C-Plane <0001> |
TTV: |
≤15um |
WRAP: |
≤30um |
BOW: |
-30~10um |
8" Saphirwafer 200 mm Durchmesser (± 0,2 mm), 725 μm Dicke, C-Ebene, 99,99% Reinheit
Diese hochreine 8-Zoll- (200 mm) Saphirwafer verfügt über außergewöhnliche Maßgenauigkeit (± 0,2 mm Durchmesser, 725 μm Dicke) und kristallographische Ausrichtung (C-Ebene),so dass es ideal für anspruchsvolle optoelektronische und Halbleiteranwendungen geeignet istMit einer Reinheit von 99,99% und einer überlegenen mechanischen/thermischen Stabilität dient die Wafer als optimales Substrat für die Herstellung von LED-, Laserdioden- und HF-Geräten.Die einheitliche Oberflächenbeschichtung und die chemische Trägheit sorgen für eine zuverlässige Ausführung in rauen Umgebungen, während sein großer Durchmesser eine kostengünstige Massenproduktion ermöglicht.
Wesentliche Merkmale von Saphirwafern
Präzisionsgeometrie:
Kristallographische Exzellenz:
Ultra-hohe Reinheit:
Robuste Materialeigenschaften:
Oberflächenqualität:
Anwendungen von Saphirwafern
Optoelektronik:
Substrat für blaue/grüne/weiße LEDs (InGaN/GaN-Epitaxie).
Laserdioden (Kanten-Emissions-/VCSEL-Dioden) in Anzeigen und Kommunikation.
Leistungselektronik:
HF-Geräte (5G/6G-Antennen, Leistungsverstärker) aufgrund des geringen dielektrischen Verlustes.
Transistoren mit hoher Elektronenmobilität (HEMT) für Elektrofahrzeuge.
Industrie und Verteidigung:
IR-Fenster, Raketenkuppeln (Saphir-Transparenz bis zur mittleren IR).
Schutzdeckel für Sensoren in korrosiven/abrasiven Umgebungen.
Neue Technologien:
Quantenrechner (SPD-Kristallsubstrate).
Tragbare Gerätebildschirme (kratzfeste Abdeckungen).
Spezifikationen
Parameter |
Wert |
---|---|
Durchmesser | 200 mm ± 0,2 mm |
Stärke | 725 μm ± 25 μm |
Orientierung | C-Ebene (0001) ±0,2° |
Reinheit | > 99,99% (4N) |
Oberflächenrauheit (Ra) | < 0,3 nm (epi-bereit) |
TTV | ≤15um |
WARP | ≤ 30 mm |
Bogen | -30 bis 10 mm |
Fragen und Antworten
F1: Warum wählen Sie C-Flächensafir für GaN-Epitaxie?
A1:Die hexagonale Symmetrie der C-Ebene entspricht der Kristallstruktur von GaN, wodurch die Gitterunterstimmung reduziert und ein hochwertiges epitaxielles Wachstum für LEDs und Stromgeräte ermöglicht wird.
F2: Wie wirkt sich die Dicke (725 μm) auf die Waferleistung aus?
A2:725 μm bilden eine Balance zwischen mechanischer Stabilität (Reduzierung von Bruch bei der Handhabung) und Wärmeleitfähigkeit, die für eine gleichmäßige Wärmeabgabe in MOCVD-Prozessen entscheidend ist.
F3: Kann diese Wafer für Hochleistungslaseranwendungen verwendet werden?
A3:Seine hohe Wärmeleitfähigkeit und Transparenz bei UV-NIR-Wellenlängen machen ihn für Laserdioden-Substrate und optische Fenster geeignet.
Q4:Sind benutzerdefinierte Ausrichtungen (z. B. R-Ebene) verfügbar?
A5:A-Plane, R-Plane und M-Plane Wafer können für spezielle Anwendungen wie SAW Geräte angepasst werden.