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4 Zoll-Halb-isolierender Indium-Phosphid InP-Wafer für LD-Laserdiode
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4 Zoll-Halb-isolierender Indium-Phosphid InP-Wafer für LD-Laserdiode

Herkunftsort China
Markenname zmkj
Modellnummer InP-3inch
Produkt-Details
Materialien:
Einzelner Kristall InP
Industrie:
Halbleitersubstrate, Gerät,
Farbe:
Schwarz
Art:
halb- Art
Durchmesser:
100mm 4inch
Stärke:
625um oder 350um
Markieren: 

inp-Oblate

,

MgO-Substrat

Produkt-Beschreibung

Halb-isolierende Phosphid InP-Oblate des Indium-4inch für LD-Laserdiode, Halbleiterwafer, Oblate InP-3inch, einzelne Kristall-wafer2inch 3inch 4inch InP-Substrate für LD-Anwendung, Halbleiterwafer, InP-Oblate, einzelne Kristallscheibe

 

InP führen ein

                                                                                                         
Einzelner Kristall InP
4 Zoll-Halb-isolierender Indium-Phosphid InP-Wafer für LD-Laserdiode 0

4 Zoll-Halb-isolierender Indium-Phosphid InP-Wafer für LD-Laserdiode 1

 Wachstum (geänderte Czochralski-Methode) wird verwendet, um ein einzelnes zu ziehen

 

Kristall durch ein encapsulant Abfahren der Boroxidflüssigkeit von einem Samen.

Der Dopant (F.E., S, Sn oder Zn) wird dem Tiegel zusammen mit dem polycrystal hinzugefügt. Hochdruck wird innerhalb der Kammer angewendet, um Aufspaltung der Firma des Indiums Phosphide.he zu verhindern hat entwickelt einen Prozess, um völlig stöchiometrischen, hohen Reinheitsgrad und niedrigen einzelnen Kristall Versetzungsdichte inP zu erbringen.

Die tCZ Technik verbessert nach dem LEC-Methodendank

zu einer thermischen Leitblechtechnologie in Zusammenhang mit einem numerischen

Modellieren von thermischen Wachstumszuständen. tCZ ist ein kosteneffektives

reife Technologie mit Reproduzierbarkeit der hohen Qualität von Boule zu Boule

 

Spezifikation

                                                                                                   

 

F.E. lackierte InP

Halb-isolierende InP-Spezifikationen

Wachstums-Methode VGF
Dopant Eisen (F.E.)
Oblaten-Form Runde (Durchmesser: 2", 3" UND 4")
Oberflächenorientierung (100) ±0.5°

*Other Orientierungen möglicherweise verfügbar auf Anfrage

Widerstandskraft (Ω.cm) ≥0.5 × 107
Mobilität (cm2/V.S) ≥ 1.000
Ätzungs-Neigungs-Dichte (cm2) 1,500-5,000

 

Oblaten-Durchmesser (Millimeter) 50.8±0.3 76.2±0.3 100±0.3
Stärke (µm) 350±25 625±25 625±25
TTV [P/P] (µm) ≤ 10 ≤ 10 ≤ 10
TTV [P/E] (µm) ≤ 10 ≤ 15 ≤ 15
VERZERRUNG (µm) ≤ 15 ≤ 15 ≤ 15
VON (Millimeter) 17±1 22±1 32.5±1
VON/, WENN (Millimeter) 7±1 12±1 18±1
Polish* E/E, P/E, P/P E/E, P/E, P/P E/E, P/E, P/P

*E=Etched, P=Polished

Anmerkung: Andere Spezifikationen möglicherweise verfügbar auf Anfrage

 

n- und p-artiger InP

Halbleiterinp-Spezifikationen

Wachstums-Methode VGF
Dopant n-artig: S, Sn UND Undoped; p-artig: Zn
Oblaten-Form Runde (Durchmesser: 2", 3" UND 4")
Oberflächenorientierung (100) ±0.5°

*Other Orientierungen möglicherweise verfügbar auf Anfrage

Dopant S u. Sn (n-artig) Undoped (n-artig) Zn (p-artig)
Ladungsträgerdichte (cm-3) (0.8-8) × 1018 (1-10) × 1015 (0.8-8) ×1018
Mobilität (cm2/V.S.) (1-2.5) × 103 (3-5) × 103 50-100
Ätzungs-Neigungs-Dichte (cm2) 100-5,000 ≤ 5000 ≤ 500
Oblaten-Durchmesser (Millimeter) 50.8±0.3 76.2±0.3 100±0.3
Stärke (µm) 350±25 625±25 625±25
TTV [P/P] (µm) ≤ 10 ≤ 10 ≤ 10
TTV [P/E] (µm) ≤ 10 ≤ 15 ≤ 15
VERZERRUNG (µm) ≤ 15 ≤ 15 ≤ 15
VON (Millimeter) 17±1 22±1 32.5±1
VON/, WENN (Millimeter) 7±1 12±1 18±1
Polish* E/E, P/E, P/P E/E, P/E, P/P E/E, P/E, P/P

*E=Etched, P=Polished

Anmerkung: Andere Spezifikationen möglicherweise verfügbar auf Anfrage

 

InP-Oblatenverarbeitung
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Jeder Barren wird in Oblaten, die eingehüllt werden, poliert und in die Oberfläche, die für Epitaxie vorbereitet wird geschnitten. Der Gesamtprozeß wird nachstehend einzeln aufgeführt.

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Flache Spezifikation und Identifizierung Die Orientierung wird auf den Oblaten durch zwei Ebenen angezeigt (lang flach für Orientierung, kleine Ebene für Identifizierung). Normalerweise wird der E.J.-Standard (europäisch-japanisch) verwendet. Die abwechselnde flache Konfiguration (US) wird größtenteils für Ø 4" Oblaten verwendet.
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Orientierung des Boule Entweder genaue (100) oder misoriented Oblaten werden angeboten.
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Genauigkeit der Orientierung von In Erwiderung auf den Bedarf der optoelektronischen Industrie, wir Angebotoblaten mit ausgezeichneter Genauigkeit von der Orientierung: < 0="">
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Randprofil Es gibt zwei allgemeine Spezifikt.: chemischer verarbeitender oder mechanisches Randverarbeitender Rand (mit einem Randschleifer).
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Polnisch Oblaten werden mittels eines Chemikalie-mechanischen Prozesses mit dem Ergebnis einer flachen, Schaden-freien Oberfläche poliert. wir stellen beide doppel-seitigen Polier- und Simplex polierten (mit eingehüllter und geätzter Rückseite) Oblaten zur Verfügung.
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Abschließendes Vorbereiten der Oberfläche und Verpacken Oblaten laufen viele chemischen Schritte, das Oxid zu entfernen durch, das während des Polierens und eine saubere Oberfläche mit stabiler und einheitlicher Oxidschicht zu schaffen produziert wird, die zur Epitaxie - epiready Oberfläche und die verringert Spurenelemente auf extrem - niedrige Stände bereit ist. Nach Endprüfung werden die Oblaten auf eine Art verpackt, die die Oberflächensauberkeit beibehält.
Spezifische Anweisungen für Oxidabbau sind für alle Arten Epitaxial- Technologien (MOCVD, MBE) verfügbar.
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Datenbank Als Teil unseres statistischen prozesskontrollierten/des umfassenden Qualitätsmanagements Programms sind die umfangreiche Datenbank, welche die elektrischen und mechanischen Eigenschaften für jeden Barren sowie Kristallqualitäts- und Oberflächenanalyse von Oblaten notiert, verfügbar. An jedem Verarbeitungsgrad, wird das Produkt kontrolliert, bevor man zum folgenden Stadium, zum einer hohen Stufe der Qualitätsübereinstimmung von Oblate zu Oblate und von Boule zu Boule beizubehalten überschreitet.

 

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Paket u. Lieferung

 

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FAQ:

Q: Was ist Ihr MOQ und Lieferfrist?

: (1) für Inventar, ist das MOQ 5 PC.

(2) für kundengebundene Produkte, ist das MOQ 10-30 PC oben.

  (3) für kundengebundene Produkte, die Lieferfrist in 10days, custiomzed Größe für 2-3weeks

 

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