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Sic Substrat
Created with Pixso. 4H-Siliziumkarbid-Substrat für Leistungselektronik, HF-Bauelemente & UV-Optoelektronik

4H-Siliziumkarbid-Substrat für Leistungselektronik, HF-Bauelemente & UV-Optoelektronik

Markenbezeichnung: ZMSH
MOQ: 10
Lieferzeit: 2-4 Wochen
Zahlungsbedingungen: T/T
Einzelheiten
Herkunftsort:
Shanghai, China
Material:
4H-SiC-Einkristall (N-Typ)
Abmessungen:
10×10 mm (±0,05 mm)
Dickenoptionen:
100–500 μm
Orientierung:
(0001) ± 0,5°
Oberflächenqualität:
CMP / Poliert, Ra ≤ 0,5 nm
Farbe:
Grüntee-Oberflächenton (typisch SiC).
Widerstand:
0,01–0,1 Ω·cm
Mängel:
MPD < 1 cm⁻²
Produkt-Beschreibung

4H-Siliziumkarbid-Substrat für Leistungselektronik, HF-Geräte und UV-Optoelektronik


Produktübersicht


Die...4H-SiC Substratist ein hochreines, einkristallines Siliziumkarbidmaterial, das für fortschrittliche Leistungselektronik, HF-Geräte und optoelektronische Anwendungen entwickelt wurde.Hergestellt nach der PVT-Methode und mit Präzisionspolieren CMP-Fähigkeiten beendetJedes Substrat weist eine sehr geringe Defektdichte, eine hervorragende Wärmeleitfähigkeit und stabile elektrische Eigenschaften auf.


Seine kompakte Größe eignet sich ideal für Forschung und Entwicklung, Geräteprototypen, Labortests und Kleinproduktion.


4H-Siliziumkarbid-Substrat für Leistungselektronik, HF-Bauelemente & UV-Optoelektronik 04H-Siliziumkarbid-Substrat für Leistungselektronik, HF-Bauelemente & UV-Optoelektronik 1

Wesentliche Merkmale

✔ Besondere Kristallqualität

  • Polytyp:4H-SiC

  • Leitfähigkeit:N-Typ-Doped

  • Mikropipendichte (MPD):< 1 cm−2

  • Ausfalldichte:< 104 cm2


✔ Ultraglatte polierte Oberflächen

  • Si-Gesicht (CMP):Ra ≤ 0,5 nm

  • C-Gesicht (poliert):Ra ≤ 1 nm

  • Epitaxiereifene Oberfläche für ein hochwertiges epitaxielles Wachstum


✔ Stabile elektrische Eigenschaften

  • Widerstandsfähigkeit00,01·0,1 Ω·cm

  • Trägerkonzentration:1 × 1018 5 × 1019 cm−3

  • Ideal für Hochspannungs- und Hochfrequenzgeräte


✔ Ausgezeichnete thermische Leistung

  • Wärmeleitfähigkeit:490 W/m·K

  • Betriebstemperaturfähigkeit:bis zu 600°C

  • Niedriger thermischer Ausdehnungskoeffizient:4.0×10−6 /K


✔ Hohe mechanische Festigkeit

  • Vickers-Härte:28 ∼ 32 GPa

  • Beugfestigkeit:> 400 MPa

  • Lange Lebensdauer und ausgezeichnete Verschleißbeständigkeit


Technische Spezifikation


Kategorie Spezifikation
Material 4H-SiC Einzelkristall (N-Typ)
Abmessungen 10 × 10 mm (± 0,05 mm)
Auswahl der Dicke 100 ‰ 500 μm
Orientierung (0001) ± 0,5°
Oberflächenqualität CMP / Poliert, Ra ≤ 0,5 nm
Widerstand 00,01·0,1 Ω·cm
Wärmeleitfähigkeit 490 W/m·K
Mängel MPD < 1 cm−2
Farbe Oberflächenton von grünem Tee (typisch für SiC)
Grade Optionen Prime, Forschung, Dummy


Verfügbare Anpassung


  • Nichtstandardgrößen: 5 × 5 mm, 5 × 10 mm, Ø2 ∼ 8 Zoll runde Substrate

  • Stärke:100 ‰ 500 μm oder nach Maß

  • Ausrichtung: 4°, 8° oder auf der Achse

  • Oberflächenveredelung: Einseitiges/Doppelseitiges Polieren

  • Doping: N-Typ, P-Typ, halbisolierend

  • Rückseite der Metallisierung


Anwendungsbereiche


1. Leistungselektronik

Ideal für SiC-MOSFETs, SBDs, Dioden und Prototypen von Hochspannungsgeräten.


2. Funk- und 5G-Infrastruktur

Wird für HF-Leistungsverstärker (PA), Schalter und Millimeterwellengeräte verwendet.


3. Neue Energiefahrzeuge

Unterstützt EV-Wechselrichterentwicklung, Power-Modul-F&E und Breitband-Test.


4Luft- und Raumfahrt und Verteidigung

Hochtemperatur- und strahlungsbeständige elektronische Komponenten.


5. Optoelektronik

UV-LEDs, Photodioden, Laserdioden und GaN-on-SiC-Strukturen.


6Universitäts- und Laborforschung

Materialforschung, Epitaxie-Experimente, Gerätefertigung.


Häufig gestellte Fragen


1Was ist der Hauptvorteil von 4H-SiC im Vergleich zu 6H-SiC?


4H-SiC bietet eine höhere Elektronenmobilität, einen geringeren Widerstand und eine überlegene Leistung in Hochleistungs- und Hochfrequenzgeräten.und fortschrittliche Leistungsmodule.


2Liefern Sie leitfähige oder halbisolierende SiC-Substrate?


Wir bieten leitfähige 4H-SiC für Leistungselektronik und halbisolierende 4H-SiC für RF-, Mikrowellen- und UV-Detektoranwendungen.


3Kann das Substrat direkt für die Epitaxie verwendet werden?


Unsere epi-fähigen 4H-SiC-Substrate verfügen über CMP-polierte Si-Flächen mit geringer Defektdichte, geeignet für MOCVD, CVD und HVPE-Epitaxialwachstum von GaN, AlN und SiC-Schichten.