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Einzelheiten zu den Produkten

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Sic Substrat
Created with Pixso. Premium 12-Zoll (300 mm) Siliziumkarbid (SiC) Substrat-Lösungen

Premium 12-Zoll (300 mm) Siliziumkarbid (SiC) Substrat-Lösungen

Markenbezeichnung: ZMSH
MOQ: 50
Lieferzeit: 2-4 WOCHEN
Zahlungsbedingungen: T/T
Einzelheiten
Herkunftsort:
Shanghai, China
Polytype:
4H
Dopingart:
N-Typ
Durchmesser:
300 ± 0,5 mm
Dicke:
Grün: 600 ± 100 μm / Transparent: 700 ± 100 μm
Oberflächenorientierung:
4° in Richtung <11-20> ± 0,5°
Primäre Wohnung:
Kerbe / Vollrund
Kerbtiefe:
1 – 1,5 mm
Gesamtdickenvariation (TTV):
≤ 10 μm
Mikrorohrdichte (MPD):
≤ 5 Stück/cm²
Hervorheben:

SiC-Substrat mit 300 mm Durchmesser

,

4H-Polytyp-Siliziumkarbidsubstrat

,

N-Typ-dotierter 12-Zoll-SiC-Wafer

Produkt-Beschreibung
Hochwertige 4H-N-Siliziumkarbid-Substrate (12-Zoll/300 mm) für Hochleistungsgeräte


Premium 12-Zoll (300 mm) Siliziumkarbid (SiC) Substrat-Lösungen 0

1. Umfassende Produkteinführung

Das 12-Zoll-Substrat aus Siliziumkarbid (SiC) repräsentiert die aktuelle Grenze der Breitband-Halbleitertechnologie (WBG).Während sich die globale Industrie auf höhere Effizienz und höhere Leistungsdichte beziehtDiese große kristalline Plattform stellt die wesentliche Grundlage für die nächste Generation von Leistungselektronik und HF-Systemen dar.

Wichtige strategische Vorteile:

  • Massive Durchsendung:Im Vergleich zu herkömmlichen 150mm (6-Zoll) und 200mm (8-Zoll) Wafern bietet das 300mm-Format mehr als das 2,2-fache und das 1,5-fache der verwendbaren Oberfläche.
  • Kostenoptimierung:Reduziert dramatisch die "Kosten pro Werkstück" durch Maximierung der Anzahl von Chips, die pro einzelnen Produktionszyklus produziert werden.
  • Erweiterte Kompatibilität:Vollkompatibel mit modernen, vollautomatisierten 300mm Halbleiterfertigungslinien (Fabs), die die Gesamtbetriebseffizienz verbessern.

Angebot der Produktklasse:

  1. 4H SiC-N-Typ Produktionsgrad:Konzipiert für die Herstellung von hochleistungsfähigen Stromgeräten.
  2. 4H SiC-N-Typ-Dummy-Typ:Eine kostengünstige Lösung für mechanische Prüfungen, Ausrüstungskalibrierung und thermische Prozessvalidierung.
  3. 4H SiC Halbdämmstoff (SI) Produktionsgrad:Speziell für RF-, Radar- und Mikrowellenanwendungen mit extremer Widerstandsfähigkeit entwickelt.
2. Materialmerkmale in der Tiefe

Premium 12-Zoll (300 mm) Siliziumkarbid (SiC) Substrat-Lösungen 1

4H-N Siliziumcarbid (leitfähiger Typ)

Der 4H-N-Polytyp ist eine mit Stickstoff doppierte, hexagonale Kristallstruktur, die für ihre robusten physikalischen Eigenschaften bekannt ist.

  • Elektrofeld mit hoher Auflösung:Ermöglicht die Entwicklung dünnerer, effizienterer Hochspannungsgeräte.
  • Überlegene Wärmeleitfähigkeit:Ermöglicht den Hochleistungsmodulen den Betrieb mit vereinfachten Kühlsystemen.
  • Extreme thermische Stabilität:Beibehält stabile elektrische Parameter auch in rauen Umgebungen von mehr als 200 °C.
  • Niedriges Widerstandsniveau:Optimiert für vertikale Energieanlagen wie SiC-MOSFETs und SBDs.

4H-SI Siliziumkarbid (halbisolierender Typ)

Unsere SI-Substrate zeichnen sich durch außergewöhnlich hohen Widerstand und minimale kristalline Defekte aus.

  • Ausgezeichnete elektrische Isolierung:Eliminiert die parasitäre Leitung des Substrats.
  • Signalintegrität:Ideal für Hochfrequenz-Mikrowellenanwendungen, bei denen ein geringer Signalverlust kritisch ist.
3. Fortgeschrittenes Kristallwachstum und Fertigungsprozess

Unser Fertigungsprozess ist vertikal integriert, um eine vollständige Qualitätskontrolle vom Rohstoff bis zum fertigen Wafer sicherzustellen.

  • Sublimationswachstum (PVT-Methode):Die 12-Zoll-Kristalle werden mit der Physical Vapor Transport (PVT) -Methode angebaut.Hochreines SiC-Pulver wird bei Temperaturen von mehr als 2000 °C unter präzise kontrollierter Vakuum- und Wärmegradie sublimiert, die sich auf einen hochwertigen Samenkristall umkristallisieren.
  • Präzisionsschneiden und Randprofiling:Nach dem Wachstum werden die Kristallblöcke mit Hilfe einer hochentwickelten mehrdrahtigen Diamantsäge in Wafer geschnitten.Die Bearbeitung der Kanten beinhaltet ein präzises Schamfen, um Splitter zu verhindern und die mechanische Robustheit während der Handhabung zu verbessern.
  • Oberflächentechnik (CMP):Abhängig von der Anwendung verwenden wir Chemical Mechanical Polishing (CMP) auf der Si-Fläche.Entfernung aller unterirdischen Schäden zur Förderung eines hochwertigen epitaxialen Wachstums.
4. Technische Spezifikationen und Toleranzmatrix
Artikel N-Typ-Produktion N-Typ-Dummy SI-Typ-Produktion
Polytyp 4H 4H 4H
Dopingart Stickstoff (N-Typ) Stickstoff (N-Typ) Halbdämmstoffe
Durchmesser 300 ± 0,5 mm 300 ± 0,5 mm 300 ± 0,5 mm
Stärke (grün/Trans) 600/700 ± 100 μm 600/700 ± 100 μm 600/700 ± 100 μm
Oberflächenorientierung 4.0° in Richtung <11-20> 4.0° in Richtung <11-20> 4.0° in Richtung <11-20>
Orientierungsgenauigkeit ± 0,5° ± 0,5° ± 0,5°
Primäre Wohnung Notch / Vollrunde Notch / Vollrunde Notch / Vollrunde
Notch Tiefe 1.0 1.5 mm 1.0 1.5 mm 1.0 1.5 mm
Flachheit (TTV) ≤ 10 μm N/A ≤ 10 μm
Mikropipendichte (MPD) ≤ 5 ea/cm2 N/A ≤ 5 ea/cm2
Oberflächenbearbeitung Epi-bereit (CMP) Präzisionsschleifen Epi-bereit (CMP)
Randverarbeitung Runder Schamfer Keine Chamfer. Runder Schamfer
Crack-Inspektion Keine (3 mm ausgenommen) Keine (3 mm ausgenommen) Keine (3 mm ausgenommen)
5Qualitätssicherung und Metrologie

Wir verwenden ein mehrstufiges Inspektionsprotokoll, um eine gleichbleibende Leistung Ihrer Produktionslinie zu gewährleisten:

  1. Optische Messtechnik:Automatisierte Oberflächengeometriemessung für TTV, Bogen und Warp.
  2. Kristalline Auswertung:Polarisierte Lichtuntersuchung nach Polytyp-Einschlüssen und Spannungsanalyse.
  3. Oberflächenfehler scannen:Hochintensives Licht und Laserstreuung, um Kratzer, Gruben und Kantenchips zu erkennen.
  4. Elektrische Eigenschaften:Kontaktsfreie Kartierung der Widerstandsfähigkeit in den zentralen 8-Zoll- und vollen 12-Zoll-Zonen.
6Industrieführende Anwendungen
  • Elektrofahrzeuge (EV):Kritisch für Traktionsumrichter, 800-Volt-Schnellladestellen und Bordladegeräte (OBC).
  • Erneuerbare Energien:Hocheffiziente PV-Wechselrichter, Windkraftwandler und Energiespeichersysteme (ESS).
  • Intelligentes Netz:Hochspannungs-Gleichspannungsübertragung (HVDC) und industrielle Motorantriebe.
  • Telekommunikation:5G/6G Makrostationen, HF-Leistungsverstärker und Satellitenverbindungen.
  • Luft- und Raumfahrt:Hoch zuverlässige Stromversorgungen für extreme Luft- und Raumfahrtumgebungen.
7Häufig gestellte Fragen (FAQ)
F1: Wie verbessert das 12-Zoll-SiC-Substrat meinen ROI?

A: Durch die Bereitstellung einer viel größeren Oberfläche können deutlich mehr Chips pro Wafer hergestellt werden. Dies reduziert die festen Kosten für die Verarbeitung und Arbeitskräfte pro Chip,Ihre Halbleiterprodukte auf dem Markt wettbewerbsfähiger machen.

F2: Welchen Nutzen hat die 4-Grad-Ausrichtung?

A: Die 4°-Orientierung in Richtung der <11-20> Ebene ist für ein hochwertiges epitaxielles Wachstum optimiert und hilft, die Bildung unerwünschter Polytypen zu verhindern und Basalplane-Dislokationen (BPD) zu reduzieren.

Q3: Können Sie eine maßgeschneiderte Lasermarkierung für die Rückverfolgbarkeit anbieten?

A: Ja, wir bieten eine maßgeschneiderte Lasermarkierung auf der C-Seite (Kohlenstofffläche) nach SEMI-Standards oder spezifischen Kundenanforderungen an, um die vollständige Rückverfolgbarkeit der Chargen zu gewährleisten.

F4: Ist die Dummy-Klasse für die Hochtemperaturbrennung geeignet?

A: Ja, die N-Typ Dummy-Klasse hat die gleichen thermischen Eigenschaften wie die Produktionsklasse, was sie ideal für die Prüfung von thermischen Zyklen, Ofenkalibrierung und Handhabungssystemen macht.