| Markenbezeichnung: | ZMSH |
| MOQ: | 50 |
| Lieferzeit: | 2-4 WOCHEN |
| Zahlungsbedingungen: | T/T |
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1. Umfassende Produkteinführung
Das 12-Zoll-Substrat aus Siliziumkarbid (SiC) repräsentiert die aktuelle Grenze der Breitband-Halbleitertechnologie (WBG).Während sich die globale Industrie auf höhere Effizienz und höhere Leistungsdichte beziehtDiese große kristalline Plattform stellt die wesentliche Grundlage für die nächste Generation von Leistungselektronik und HF-Systemen dar.
Wichtige strategische Vorteile:
Angebot der Produktklasse:
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4H-N Siliziumcarbid (leitfähiger Typ)
Der 4H-N-Polytyp ist eine mit Stickstoff doppierte, hexagonale Kristallstruktur, die für ihre robusten physikalischen Eigenschaften bekannt ist.
4H-SI Siliziumkarbid (halbisolierender Typ)
Unsere SI-Substrate zeichnen sich durch außergewöhnlich hohen Widerstand und minimale kristalline Defekte aus.
Unser Fertigungsprozess ist vertikal integriert, um eine vollständige Qualitätskontrolle vom Rohstoff bis zum fertigen Wafer sicherzustellen.
| Artikel | N-Typ-Produktion | N-Typ-Dummy | SI-Typ-Produktion |
|---|---|---|---|
| Polytyp | 4H | 4H | 4H |
| Dopingart | Stickstoff (N-Typ) | Stickstoff (N-Typ) | Halbdämmstoffe |
| Durchmesser | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm |
| Stärke (grün/Trans) | 600/700 ± 100 μm | 600/700 ± 100 μm | 600/700 ± 100 μm |
| Oberflächenorientierung | 4.0° in Richtung <11-20> | 4.0° in Richtung <11-20> | 4.0° in Richtung <11-20> |
| Orientierungsgenauigkeit | ± 0,5° | ± 0,5° | ± 0,5° |
| Primäre Wohnung | Notch / Vollrunde | Notch / Vollrunde | Notch / Vollrunde |
| Notch Tiefe | 1.0 1.5 mm | 1.0 1.5 mm | 1.0 1.5 mm |
| Flachheit (TTV) | ≤ 10 μm | N/A | ≤ 10 μm |
| Mikropipendichte (MPD) | ≤ 5 ea/cm2 | N/A | ≤ 5 ea/cm2 |
| Oberflächenbearbeitung | Epi-bereit (CMP) | Präzisionsschleifen | Epi-bereit (CMP) |
| Randverarbeitung | Runder Schamfer | Keine Chamfer. | Runder Schamfer |
| Crack-Inspektion | Keine (3 mm ausgenommen) | Keine (3 mm ausgenommen) | Keine (3 mm ausgenommen) |
Wir verwenden ein mehrstufiges Inspektionsprotokoll, um eine gleichbleibende Leistung Ihrer Produktionslinie zu gewährleisten:
A: Durch die Bereitstellung einer viel größeren Oberfläche können deutlich mehr Chips pro Wafer hergestellt werden. Dies reduziert die festen Kosten für die Verarbeitung und Arbeitskräfte pro Chip,Ihre Halbleiterprodukte auf dem Markt wettbewerbsfähiger machen.
A: Die 4°-Orientierung in Richtung der <11-20> Ebene ist für ein hochwertiges epitaxielles Wachstum optimiert und hilft, die Bildung unerwünschter Polytypen zu verhindern und Basalplane-Dislokationen (BPD) zu reduzieren.
A: Ja, wir bieten eine maßgeschneiderte Lasermarkierung auf der C-Seite (Kohlenstofffläche) nach SEMI-Standards oder spezifischen Kundenanforderungen an, um die vollständige Rückverfolgbarkeit der Chargen zu gewährleisten.
A: Ja, die N-Typ Dummy-Klasse hat die gleichen thermischen Eigenschaften wie die Produktionsklasse, was sie ideal für die Prüfung von thermischen Zyklen, Ofenkalibrierung und Handhabungssystemen macht.