| Markenbezeichnung: | ZMSH |
| Modellnummer: | SiC-Substrat 10 × 10 mm |
| MOQ: | 25 |
| Preis: | by case |
| Lieferzeit: | 2-4 Wochen |
| Zahlungsbedingungen: | T/T |
Der 4H-N Typ SiC 10*10 mm Kleinwafer ist ein Hochleistungs-Halbleitersubstrat auf Basis von Siliziumkarbid (SiC), einem Halbleitermaterial der dritten Generation. Hergestellt durch Physical Vapor Transport (PVT) oder High-Temperature Chemical Vapor Deposition (HTCVD), ist er in 4H-SiC- oder 6H-SiC-Polytypen und N-Typ- oder P-Typ-Dotierungskonfigurationen erhältlich. Mit Maßtoleranzen innerhalb von ±0,05 mm und einer Oberflächenrauheit Ra < 0,5 nm, ist jeder Wafer epitaxie-fertig und wird strengen Inspektionen unterzogen, einschließlich XRD-Kristallinitätsvalidierung und optischer Mikroskopie-Defektanalyse.
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| Parameter | Spezifikation |
|---|---|
| Materialtyp | 4H-SiC (N-Typ dotiert) |
| Abmessungen | 10*10 mm (±0,05 mm) |
| Dicke | 100–500 µm |
| Oberflächenrauheit | Ra < 0,5 nm (poliert) |
| Spezifischer Widerstand | 0,01–0,1 Ω·cm |
| Kristallorientierung | (0001) ±0,5° |
| Wärmeleitfähigkeit | 490 W/m·K |
| Defektdichte | Mikroporen: <1 cm⁻²; Versetzungen: <10⁴ cm⁻² |
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F: Was sind typische Anwendungen von 10*10 mm SiC-Wafern?
A: Ideal für Prototypen von Leistungsbauelementen (MOSFETs/Dioden), HF-Komponenten und Hochtemperatur-Optoelektronik.
F: Wie vergleicht sich SiC mit Silizium?
A: SiC bietet eine 10* höhere Durchbruchspannung, eine 3* bessere Wärmeleitfähigkeit und überlegene Hochtemperaturleistung.
ZMSH Technology kann Kunden importierte und inländische hochwertige leitfähige, 2-6 Zoll semiisolierende und HPSI (High Purity Semi-insulating) SiC-Substrate in Chargen anbieten; Darüber hinaus kann es Kunden homogene und heterogene Siliziumkarbid-Epitaxieschichten anbieten und kann auch nach den spezifischen Bedürfnissen der Kunden angepasst werden, ohne Mindestbestellmenge.