Produkt-Details
Herkunftsort: China
Markenname: ZMSH
Zertifizierung: rohs
Modellnummer: LNOI Waffeln
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Preis: by case
Lieferzeit: 2-4weeks
Zahlungsbedingungen: T/T
Ausgangsstoffe:: |
Lithiumniobat-Einkristall |
Größe:: |
4 Zoll 6 Zoll 8 Zoll |
Stärke:: |
300-1000nm |
Orientierung:: |
X-Achse Schnitt, Y-Achse Schnitt, Z-Achse Schnitt |
Dichte:: |
D=4,64 ((g/cm3) |
Anwendung: |
Hochgeschwindigkeitsoptische Kommunikation, Quantenoptik |
Ausgangsstoffe:: |
Lithiumniobat-Einkristall |
Größe:: |
4 Zoll 6 Zoll 8 Zoll |
Stärke:: |
300-1000nm |
Orientierung:: |
X-Achse Schnitt, Y-Achse Schnitt, Z-Achse Schnitt |
Dichte:: |
D=4,64 ((g/cm3) |
Anwendung: |
Hochgeschwindigkeitsoptische Kommunikation, Quantenoptik |
LNOI (Lithiumniobat auf Isolator)-Wafer sind fortschrittliche photonische Plattformen, die auf ultradünnen Lithiumniobat-Filmen (LiNbO₃) (300–900 nm) basieren, die durch Ionenimplantation und Direktbindungstechniken auf isolierenden Substraten (z. B. Silizium, Saphir oder Glas) gebondet werden.
Hauptvorteile sind:
· Flexible Größen: Anpassbare 4–8-Zoll-Wafer mit einstellbarer Filmstärke (Standard 600 nm, skalierbar auf Mikromaßstab).
· Heterogene Integration: Kompatibel mit Silizium, Nitrid und Glas für die monolithische Integration von elektrooptischen Modulatoren, Quantenlichtquellen usw.
· ZMSH-Dienstleistungen: Wafer-Design, Optimierung des Bondprozesses, Wafer-Level-Fertigung (Photolithographie, Ätzen, Metallisierung) und schlüsselfertige Lösungen für Prototyping bis zur Massenproduktion.
S.N | Parameter | Spezifikationen |
1 | Allgemeine Spezifikationen für LNOI-Wafer | |
1.1 | Struktur | LiNbO₃ / Oxid / Si |
1.2 | Durchmesser | Φ100 ± 0,2 mm |
1.3 | Dicke | 525 ± 25 μm |
1.4 | Länge der primären Abflachung | 32,5 ± 2 mm |
1.5 | Wafer-Fasen | R-Typ |
1.6 | LTV | <1,5 μm (5×5 mm²)/95% |
1.7 | Durchbiegung | +/-50 μm |
1.8 | Verzug | <50 μm |
1.9 | Kantenzuschnitt | 2 ± 0,5 mm |
2 | Spezifikation der Lithiumniobat-Schicht | |
2.1 | Durchschnittliche Dicke | 400 nm ± 10 nm |
2.2 | Orientierung | X-Achse ±0,5° |
2.3 | Orientierung der primären Abflachung | Z-Achse ±1° |
2.4 | Rauheit der Vorderseite (Ra) | <1 nm |
2.5 | Bonddefekte | >1 mm Keine;≤1 mm innerhalb von 80 insgesamt |
2.6 | Kratzer auf der Vorderseite | >1 cm Keine;≤1 cm innerhalb von ≤3 insgesamt |
3 | Spezifikation der Oxidschicht (SiO2) | |
3.1 | Dicke | 4700 ± 150 nm |
3.2 | Gleichmäßigkeit | ±5% |
4 | Si-Schicht-Spezifikation | |
4.1 | Material | Si |
4.2 | Orientierung | <100> ±1° |
4.3 | Orientierung der primären Abflachung | <110> ±1° |
4.4 | Spezifischer Widerstand | >10 kΩ·cm |
4.5 | Rückseite | Geätzt |
Hinweise: Gültige/aktuelle Genehmigung vom OEM ist erforderlich |
1. Materialeigenschaften:
· Hoher elektrooptischer Koeffizient (r₃₃ ≈ 30 pm/V) und breites Transparenzfenster (0,35–5 μm), das UV- bis MIR-Anwendungen ermöglicht.
· Ultra-geringer Wellenleiterverlust (<0,3 dB/cm) und hohe Nichtlinearität für Hochgeschwindigkeitsmodulation und Quantenfrequenzumwandlung.
2. Prozessvorteile:
· Sub-300 nm Filme reduzieren das Modalvolumen und unterstützen Modulatoren mit >60 GHz Bandbreite.
· Minderung der Fehlanpassung der Wärmeausdehnung durch Bond-Interface-Engineering (z. B. amorphe Siliziumschichten).
3. Leistungsvergleich:
· vs. Silizium-Photonik/InP: Geringerer Stromverbrauch (<3 V half-wave voltage), higher extinction ratio (>20 dB) und 50 % kleinerer Footprint.
1. Hochgeschwindigkeits-Optische Kommunikation:
- Elektrooptische Modulatoren: Ermöglichen 800 Gbit/s/1,6 Tbit/s Module mit >40 GHz Bandbreite, 3× Effizienz gegenüber Silizium.
- Kohärente Module: Heterogen mit Silizium-Photonik integriert für verlustarme, hochzuverlässige Langstreckenübertragung.
2. Quanteninformationssysteme:
- Quantenlichtquellen: Integrierte verschränkte Photonenpaargeneratoren für die On-Chip-Quantenzustandsmanipulation.
- Quantencomputerchips: Nutzen die Nichtlinearität von LiNbO₃ für die Qubit-Herstellung und fehlertolerante Architekturen.
3. Sensorik & Bildgebung:
- Terahertz-Detektoren: Nicht-kryogene Bildgebung mit mm-Auflösung über EO-Modulation.
- Glasfasergyroskope: Hochpräzise Trägheitsnavigation für die Luft- und Raumfahrt.
4. Optisches Rechnen & KI-Beschleunigung:
- Photonische ICs: Ultra-niedrige Latenz-Logikgatter und -Schalter für die parallele KI-Verarbeitung.
1. Kerndienstleistungen:
Wafer-Anpassung: 4–8-Zoll-LNOI-Wafer mit X-Schnitt/Z-Schnitt-Orientierungen, MgO-Dotierung und Dicke der vergrabenen Oxidschicht (50 nm–20 μm).
Heterogene Integration: Bonden mit Silizium, Saphir oder Nitrid für hybride EO-optische Chips (z. B. Laser-Modulator-Monolithen).
Fertigungsdienstleistungen: 150 nm UV-Lithographie, Trockenätzen, Au/Cr-Metallisierung und Wafer-Level-Verpackung/Tests.
End-to-End-Support: Designsimulation (PIC Studio Tools), Ertragsoptimierung und Full-Scale-Produktion.
2. Technologische Trends:
Größere Wafer: Übergang zu 8-Zoll-LNOI zur Kostensenkung und Kapazitätsskalierung.
Ultradünne Filme: Entwicklung <200 nm Filme zur Überwindung von Kurzwellenlängen-Absorptionsgrenzen (Anwendungen im sichtbaren Licht).
Hybride Integration: Bonden mit III-V-Materialien (InP) für die Laser-Modulator-Integration.
Intelligente Fertigung: KI-gestützte Ätzparameteroptimierung zur Reduzierung von Defekten (<1 Defekt/cm²).
1. F: Ist Lithiumtantalat dasselbe wie Lithiumniobat?
A: Nein. Lithiumtantalat (LiTaO₃) und Lithiumniobat (LiNbO₃) sind unterschiedliche Materialien mit unterschiedlichen chemischen Zusammensetzungen (Ta vs. Nb), weisen aber eine ähnliche Kristallstruktur (R3c-Raumgruppe) und ferroelektrische Eigenschaften auf.
2. F: Ist Lithiumniobat ein Perowskit?
A: Nein. Lithiumniobat kristallisiert in einer Nicht-Perowskit-Struktur (R3c-Raumgruppe), die sich von der kanonischen ABX₃-Perowskit-Struktur unterscheidet. Es weist jedoch ein perowskitähnliches ferroelektrisches Verhalten aufgrund seines ABO₃-ähnlichen Sauerstoffoktaedergerüsts auf.
Tag: #3inch/4inch/6inch/8inch, #Customized, #Lithium Niobate Thin Film, #LNOI Wafers, #Unpolished, #Optical Loss <0,05 dB/cm, # X-Schnitt Y-Schnitt Z-Schnitt Orientierungen