Produkt-Details
Place of Origin: CHINA
Markenname: ZMSH
Zertifizierung: rohs
Model Number: SiCOI Wafers
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Preis: by case
Delivery Time: 2-4weeks
Payment Terms: T/T
Size: |
4inch/6inch/8inch |
Surface Roughness: |
Ra<0.5nm |
Fracture Toughness: |
3.5 MPa·m¹/² |
CTE (4H-SiC): |
4.2×10⁻⁶/K |
Resistivity (SI): |
>1×10⁶ Ω·cm |
Application: |
Power electronics, radio frequency and 5G communication |
Size: |
4inch/6inch/8inch |
Surface Roughness: |
Ra<0.5nm |
Fracture Toughness: |
3.5 MPa·m¹/² |
CTE (4H-SiC): |
4.2×10⁻⁶/K |
Resistivity (SI): |
>1×10⁶ Ω·cm |
Application: |
Power electronics, radio frequency and 5G communication |
Zusammenfassung vonSiCOI-Wafer
SICOI (Silicon Carbide on Insulator) -Wafer stellen eine fortschrittliche Komposit-Substrattechnologie dar, die entweder durch Smart CutTM- oder Bonding & Thinning-Prozesse hergestellt wird. ZMSH supply 4-6 inch 4H-SICOI wafers by integrating high-quality SiC thin films with insulating layers (SiO₂/AlN) on silicon or SiC substrates via hydrophilic bonding or plasma-activated bonding techniques. Smart CutTM-Prozess: Verwendet Wasserstoff-Ionen-Implantation, Niedertemperaturbindung und Präzisionspeeling, um ultradünne SiC-Schichten (50nm-20μm) mit einer Dicken-Einheitlichkeit von ±20nm zu erzielen,Ideal für Hochfrequenz, geringe Verluste. Schleifen+CMP-Verfahren: Geeignet für dickere Filmbedürfnisse (200 nm bis zu kundenspezifischen Dicken) mit einer Einheitlichkeit von ±100 nm und bietet Kosteneffizienz für Leistungselektronik-Anwendungen. ZMSH bietet anpassbare leitfähige oder halbisolierende SiC-Folien,mit Optionen für die Optimierung der Ionenimplantationsglühen oder die direkte Ausdünnung/Polierung, um unterschiedliche Leistungs- und Kostenanforderungen zu erfüllen.
Komponente | Eigentum | Spezifikation | Messstandards |
4H-SiC-Film | Kristallstruktur | Einkristall 4H-SiC | ASTM F2094 |
Defektdichte | < 103 cm−2 (Drehverzerrungen) | ||
Oberflächenrauheit (Ra) | < 0,5 nm | AFM-Messung | |
Halbisolierende Widerstandsfähigkeit | > 106 Ω·cm | SEMI MF397 | |
N-Dopingbereich | 1016 bis 1019 cm−3 | ||
Wärmeleitfähigkeit | > 300 W/m·K | ||
SiO2-Schicht | Formationsmethode | Thermische Oxidation | |
Dielektrische Konstante (ε) | 3.9 | JESD22-A109 | |
Abbruchfeldstärke | > 10 MV/cm | ||
Dichte der Schnittstellenfalle | < 1011 cm-2eV-1 | ||
Si Substrat | Thermische Ausdehnung (CTE) | ~3,5 × 10−6/°C | |
Waferbogen (8 Zoll) | < 50 μm | SEMI M1 | |
Temperaturstabilität | > 300°C | ||
Integrierte Leistung | Wafergrößenunterstützung | 4-8 Zoll-Formate |
1. Leistungselektronik
EV-Inverter: SiC-MOSFETs auf SICOI-Substraten arbeiten bei 1200 V mit 30% geringeren Schaltverlusten, kompatibel mit 800-Volt-Schnellladesystemen.
Industrielle Motorantriebe: SICOI-Wafer mit AlN-Anschlussschichten erhöhen die Wärmeabgabe um 50% und unterstützen > 10 kW-Modulverpackungen.
2. HF- und 5G-Kommunikation
mmWave-Leistungsverstärker: GaN-HEMT auf halbisolierenden SICOI erreichen eine Leistung von 8 W/mm bei 28 GHz mit einer Effizienz von > 65%.
Phased Array Antennen: Niedriger dielektrischer Verlust (tanδ<0,001) minimiert die Signaldämpfung für Satellitenkommunikation.
3. Quantencomputing und Sensing
Spin-Qubit-Träger: Ultrathin SiC-Filme (<100 nm) bieten geräuscharme Umgebungen und verlängern die Kohärenzzeiten über 1 ms hinaus.
High-Temp MEMS-Sensoren: Stabiler Betrieb bei 300 °C für die Überwachung von Luftfahrtmotoren.
4. Verbraucherelektronik
Schnelllade-ICs: SICOI-basierte GaN-Geräte ermöglichen ein >200W-Ladevorgang mit einem um 40% geringeren Aufwand.
Als führender Anbieter von Breitband-Halbleiter-Substraten bieten wir Ihnen von Ende zu Ende technische Unterstützung von der Forschung und Entwicklung bis zur Serienproduktion:
• Individuelle Entwicklung: Optimierung der SiC-Filmdicke (auf Nanoskala bis Mikrometer), des Dopings (N/P-Typ) und der Isolationsschichten (SiO2/AlN/Si3N4) pro Gerät.
· Prozessberatung: Smart CutTM (hohe Präzision) oder Grinding+CMP (kostengünstig) Lösungen mit vergleichenden Daten empfehlen.
· Wafer-Level-Testing: Einschließlich Schnittstellenzustandsanalyse, Wärmeresistenzkartierung und Hochspannungssicherheitsvalidierung.
1. F: Was ist SICOI Wafer?
A: SICOI (Silicon Carbide on Insulator) -Wafer ist ein fortschrittliches Verbundwerkstoffsubstrat, das einen Einzelkristall 4H-SiC-Film mit einer SiO2-Isolierschicht auf Silizium-/Saphirbasis integriert.die Hochleistungs- und HF-Geräte mit überlegener thermischer/elektrischer Leistung ermöglichen.
2F: Wie verhält sich SICOI im Vergleich zu SOI?
A: SICOI bietet eine 5-mal höhere Wärmeleitfähigkeit (> 300 W/m·K) und eine 3-mal höhere Abbruchspannung (> 8 MV/cm) als SOI, was es ideal für Leistungselektronik von 800 V+ und 5G mmWave-Anwendungen macht.
Tag: #4 Zoll 6 Zoll 8 Zoll, # angepasst, #4H-SiCOI-Wafer"Zusammengesetztes SiC auf Isolatorsubstraten, #SiC, #SiO2, #Si