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4 Zoll 6 Zoll 8 Zoll 4H-SiCOI-Wafer Komposit SiC auf Isolatorsubstraten

Produkt-Details

Place of Origin: CHINA

Markenname: ZMSH

Zertifizierung: rohs

Model Number: SiCOI Wafers

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Delivery Time: 2-4weeks

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Hervorheben:

8 Zoll 4H-SiCOI Wafer

,

4 Zoll 4H-SiCOI Wafer

,

6 Zoll 4H-SiCOI Wafer

Size:
4inch/6inch/8inch
Surface Roughness:
Ra<0.5nm
Fracture Toughness:
3.5 MPa·m¹/²
CTE (4H-SiC):
4.2×10⁻⁶/K
Resistivity (SI):
>1×10⁶ Ω·cm
Application:
Power electronics, radio frequency and 5G communication
Size:
4inch/6inch/8inch
Surface Roughness:
Ra<0.5nm
Fracture Toughness:
3.5 MPa·m¹/²
CTE (4H-SiC):
4.2×10⁻⁶/K
Resistivity (SI):
>1×10⁶ Ω·cm
Application:
Power electronics, radio frequency and 5G communication
4 Zoll 6 Zoll 8 Zoll 4H-SiCOI-Wafer Komposit SiC auf Isolatorsubstraten

 

Zusammenfassung vonSiCOI-Wafer

 

 

 

4 Zoll 6 Zoll 8 Zoll 4H-SiCOI-Wafer Komposit SiC auf Isolatorsubstraten

 

SICOI (Silicon Carbide on Insulator) -Wafer stellen eine fortschrittliche Komposit-Substrattechnologie dar, die entweder durch Smart CutTM- oder Bonding & Thinning-Prozesse hergestellt wird. ZMSH supply 4-6 inch 4H-SICOI wafers by integrating high-quality SiC thin films with insulating layers (SiO₂/AlN) on silicon or SiC substrates via hydrophilic bonding or plasma-activated bonding techniques. Smart CutTM-Prozess: Verwendet Wasserstoff-Ionen-Implantation, Niedertemperaturbindung und Präzisionspeeling, um ultradünne SiC-Schichten (50nm-20μm) mit einer Dicken-Einheitlichkeit von ±20nm zu erzielen,Ideal für Hochfrequenz, geringe Verluste. Schleifen+CMP-Verfahren: Geeignet für dickere Filmbedürfnisse (200 nm bis zu kundenspezifischen Dicken) mit einer Einheitlichkeit von ±100 nm und bietet Kosteneffizienz für Leistungselektronik-Anwendungen. ZMSH bietet anpassbare leitfähige oder halbisolierende SiC-Folien,mit Optionen für die Optimierung der Ionenimplantationsglühen oder die direkte Ausdünnung/Polierung, um unterschiedliche Leistungs- und Kostenanforderungen zu erfüllen.

 

 


 

Schlüsselmerkmale derSiCOI-Wafer

 

 

Komponente Eigentum Spezifikation Messstandards
4H-SiC-Film Kristallstruktur Einkristall 4H-SiC ASTM F2094
Defektdichte < 103 cm−2 (Drehverzerrungen)  
Oberflächenrauheit (Ra) < 0,5 nm AFM-Messung
Halbisolierende Widerstandsfähigkeit > 106 Ω·cm SEMI MF397
N-Dopingbereich 1016 bis 1019 cm−3  
Wärmeleitfähigkeit > 300 W/m·K  
SiO2-Schicht Formationsmethode Thermische Oxidation  
Dielektrische Konstante (ε) 3.9 JESD22-A109
Abbruchfeldstärke > 10 MV/cm  
Dichte der Schnittstellenfalle < 1011 cm-2eV-1  
Si Substrat Thermische Ausdehnung (CTE) ~3,5 × 10−6/°C  
Waferbogen (8 Zoll) < 50 μm SEMI M1
Temperaturstabilität > 300°C  
Integrierte Leistung Wafergrößenunterstützung 4-8 Zoll-Formate  

 

 


 

Hauptanwendungen vonSiCOI-Wafer

 

 

4 Zoll 6 Zoll 8 Zoll 4H-SiCOI-Wafer Komposit SiC auf Isolatorsubstraten 0

1. Leistungselektronik

 

EV-Inverter: SiC-MOSFETs auf SICOI-Substraten arbeiten bei 1200 V mit 30% geringeren Schaltverlusten, kompatibel mit 800-Volt-Schnellladesystemen.

Industrielle Motorantriebe: SICOI-Wafer mit AlN-Anschlussschichten erhöhen die Wärmeabgabe um 50% und unterstützen > 10 kW-Modulverpackungen.

 

 

2. HF- und 5G-Kommunikation

 

mmWave-Leistungsverstärker: GaN-HEMT auf halbisolierenden SICOI erreichen eine Leistung von 8 W/mm bei 28 GHz mit einer Effizienz von > 65%.

Phased Array Antennen: Niedriger dielektrischer Verlust (tanδ<0,001) minimiert die Signaldämpfung für Satellitenkommunikation.

 

 

3. Quantencomputing und Sensing

 

Spin-Qubit-Träger: Ultrathin SiC-Filme (<100 nm) bieten geräuscharme Umgebungen und verlängern die Kohärenzzeiten über 1 ms hinaus.

High-Temp MEMS-Sensoren: Stabiler Betrieb bei 300 °C für die Überwachung von Luftfahrtmotoren.

 

 

4. Verbraucherelektronik

 

Schnelllade-ICs: SICOI-basierte GaN-Geräte ermöglichen ein >200W-Ladevorgang mit einem um 40% geringeren Aufwand.

 

 


 

Dienstleistungen der ZMSH

 

 

Als führender Anbieter von Breitband-Halbleiter-Substraten bieten wir Ihnen von Ende zu Ende technische Unterstützung von der Forschung und Entwicklung bis zur Serienproduktion:

• Individuelle Entwicklung: Optimierung der SiC-Filmdicke (auf Nanoskala bis Mikrometer), des Dopings (N/P-Typ) und der Isolationsschichten (SiO2/AlN/Si3N4) pro Gerät.

· Prozessberatung: Smart CutTM (hohe Präzision) oder Grinding+CMP (kostengünstig) Lösungen mit vergleichenden Daten empfehlen.

· Wafer-Level-Testing: Einschließlich Schnittstellenzustandsanalyse, Wärmeresistenzkartierung und Hochspannungssicherheitsvalidierung.

 

 

 

4 Zoll 6 Zoll 8 Zoll 4H-SiCOI-Wafer Komposit SiC auf Isolatorsubstraten 14 Zoll 6 Zoll 8 Zoll 4H-SiCOI-Wafer Komposit SiC auf Isolatorsubstraten 2

 

 


 

Fragen und Antworten

 

 

1. F: Was ist SICOI Wafer?
A: SICOI (Silicon Carbide on Insulator) -Wafer ist ein fortschrittliches Verbundwerkstoffsubstrat, das einen Einzelkristall 4H-SiC-Film mit einer SiO2-Isolierschicht auf Silizium-/Saphirbasis integriert.die Hochleistungs- und HF-Geräte mit überlegener thermischer/elektrischer Leistung ermöglichen.

 

 

2F: Wie verhält sich SICOI im Vergleich zu SOI?
A: SICOI bietet eine 5-mal höhere Wärmeleitfähigkeit (> 300 W/m·K) und eine 3-mal höhere Abbruchspannung (> 8 MV/cm) als SOI, was es ideal für Leistungselektronik von 800 V+ und 5G mmWave-Anwendungen macht.

 

 


Tag: #4 Zoll 6 Zoll 8 Zoll, # angepasst, #4H-SiCOI-Wafer"Zusammengesetztes SiC auf Isolatorsubstraten, #SiC, #SiO2, #Si