Produkt-Details
Herkunftsort: China
Markenname: ZMSH
Zertifizierung: rohs
Modellnummer: LPCVD-Oxidationsöfen
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Min Bestellmenge: 2
Preis: by case
Lieferzeit: 5 bis 10 Monate
Zahlungsbedingungen: T/T
Wafer size:: |
6/8/12 inch wafer |
Compatible Materials:: |
Polycrystalline silicon, silicon nitride, silicon oxide |
Oxidation:: |
Dry oxygen/Wet oxygen (DCE, HCL) |
Process temperature range:: |
500°C-900°C |
Temperature control accuracy:: |
±1°C |
Application:: |
Power semiconductors, Substrate materials |
Wafer size:: |
6/8/12 inch wafer |
Compatible Materials:: |
Polycrystalline silicon, silicon nitride, silicon oxide |
Oxidation:: |
Dry oxygen/Wet oxygen (DCE, HCL) |
Process temperature range:: |
500°C-900°C |
Temperature control accuracy:: |
±1°C |
Application:: |
Power semiconductors, Substrate materials |
Zusammenfassung des LPCVD-Oxidationsöfen
6 Zoll 8 Zoll 12 Zoll LPCVD Oxidationsofen für einheitliche Dünnschichtdeposition
LPCVD-Systeme (Low Pressure Chemical Vapor Deposition) dienen als kritische Dünnschicht-Depositionsausrüstung in der Halbleiterherstellung, hauptsächlich für den Anbau von Polysilicium, Siliziumnitrid,und SiliziumoxidfolienZu den wichtigsten Vorteilen der Technologie gehören:
1) Niederdruckumgebung (0,1-10 Torr), die eine außergewöhnliche Filmgleichheit innerhalb von ±1,5% gewährleistet;
2) Vertikaler Reaktorentwurf, der eine hohe Durchsatzleistung von 150-200 Wafern pro Charge ermöglicht;
3) thermisch aktivierte Ablagerung bei 300-800°C ohne Plasmaverletzung, was sie besonders für Präzisionsverfahren wie die dielektrische Schließung von Toren geeignet macht.
Diese Technologie wurde in der fortgeschrittenen Knotenfertigung (5nm und darüber hinaus) sowohl für Logikchips als auch für Speichergeräte weit verbreitet.
The LPCVD process operates under reduced pressure conditions where the extended mean free path of gas molecules (significantly greater than at atmospheric pressure) contributes to superior film uniformityDie vertikale Waferanordnung maximiert nicht nur die Chargenkapazität, sondern erhöht auch die Produktionseffizienz, wodurch das System ideal für die Herstellung von Halbleitern im industriellen Maßstab geeignet ist.
LPCVD-OxidationsöfenSpezifikationen
TÖkologie |
LP-SiN-Prüfpunkt | Kontrolle | |
Nitridablagerung |
Teil ((EA) |
Übertragungspartikel | < 15 EA (> 0,32 μm) |
Prozesspartikel |
< 60EA (> 0,32μm), < 80EA (> 0,226μm) |
||
Stärke ((A) |
NIT1500 | 1500 ± 50 | |
Einheitlichkeit |
innerhalb der Wafer < 2,5% Wafer zu Wafer < 2,5% Auslauf bis Auslauf < 2% |
||
Wafergröße
|
6/8/12 Zoll Wafer | ||
Prozesstemperaturbereich
|
500°C bis 900°C | ||
Länge der konstanten Temperaturzone
|
≥ 800 mm | ||
Temperaturregelungsgenauigkeit
|
±1°C |
Produktmerkmale von LPCVD-Geräten:
*Automatisierte Bedienung mit hochpräziser Waferbearbeitung
*Ultra-reine Prozesskammer mit minimalem Partikelverunreinigung
*Überlegene Filmdicke-Einheitlichkeit
*Intelligente Temperaturregelung mit Echtzeiteinstellung
*SiC-Waferunterstützung für reduzierte Reibung und Partikelbildung
*Automatische Druckregelung für eine gleichbleibende Prozessleistung
*Anpassungsfähige Konfigurationen für verschiedene Prozessanforderungen
LPCVD-Ablagerungsgrundsatz:
1Gas-Einführung: Reaktionsgase werden in das Rohr eingeführt, wobei eine für die Reaktion notwendige Niederdruckumgebung im Rohr aufrechterhalten wird, die typischerweise zwischen 0,25 und 1 Torr liegt.
2- Oberflächentransport von Reaktanten: Unter Niederdruckbedingungen können sich Reaktanten frei auf der Waferoberfläche bewegen.
3. Reaktionsmittel Adsorption auf Substratoberfläche: Reaktionsstoffe haften an der Substratoberfläche.
4Chemische Reaktion auf der Waferoberfläche: Die Reaktionsstoffe unterliegen thermischer Zersetzung oder Reaktion auf der Waferoberfläche und bilden Produkte.
5. Entfernung von Nichtproduktgasen: Andere Gase als die Reaktionsprodukte werden von der Oberfläche entfernt, um die Niederdruckumgebung aufrechtzuerhalten und Störungen des Ablagerungsprozesses zu vermeiden.
6. Akkumulation von Reaktionsprodukten zur Bildung von Folien: Die Reaktionsprodukte sammeln sich auf der Oberfläche an und bilden einen festen Film.
Anwendung des Oxidationsprozesses
Siliziumdioxid (SiO2) hat zahlreiche Anwendungen:
1Schirm-Oxid-Schicht: Es dient als Barriere, um eine Kontamination der Siliziumwafer zu verhindern, indem es den Photoresist blockiert.Und es kann auch Ionen zerstreuen, bevor sie in das Einzelkristall Silizium gelangen, um Kanalisierungseffekte zu reduzieren..
2. Pad Oxid Schicht: Diese Schicht wird verwendet, um die Spannung zwischen Silizium und Siliziumnitrid zu reduzieren.Die Zugkraft von bis zu 10^10 dyn/cm2 der LPCVD-Siliziumnitrid-Schichten könnte Risse oder sogar Bruch in Siliziumwafern verursachen..
3Gate Oxid-Schicht: Als die dielektrische Schicht in MOS-Strukturen dient, ermöglicht sie Stromleitungen und führt Feldwirkungskontrolle durch.
Klassifizierung von LPCVD-Systemen: vertikale und horizontale Konfigurationen
LPCVD-Ausrüstung ist in vertikale und horizontale Typen eingeteilt, wobei die Nomenklatur von der Orientierung der Ofenkammer oder gleichbedeutend von der Position des Substrats abgeleitet wird.Diese beiden vorherrschenden Niederdruck-chemischen Dampfdeposition (LPCVD) -Systemkonfigurationen unterscheiden sich hauptsächlich durch ihre Substratanordnung und die Gasflussdynamik.
Vertikale LPCVD-Systeme:
Bei vertikaler LPCVD werden Prozessgase typischerweise von der Oberseite der Reaktionskammer eingeführt und durch die Substrate nach unten fließen, bevor sie von der Unterseite ausgestoßen werden.Dieses Design trägt dazu bei, einen gleichmäßigen Gasfluss über jedes Substrat zu gewährleisten, wodurch eine gleichbleibende Dünnschichtablagerung erreicht wird.
Horizontale LPCVD-Systeme:
Horizontale LPCVD-Systeme sind so konzipiert, dass Vorläufer von einem Ende des Substrates zum anderen fließen können, wodurch ein kontinuierlicher Gasstrom vom Eingang zum Ausgang entsteht.die zur gleichmäßigen Filmbildung beitragen könnenEs kann jedoch auch zu einer dickeren Ablagerung in der Nähe der Gaseinlassseite im Vergleich zum gegenüberliegenden Ende führen.
BearbeitungswirkungLPCVD-Oxidationsöfen
Fragen und Antworten
1. F: Wofür wird LPCVD angewendet?
A: LPCVD (Low Pressure Chemical Vapor Deposition) wird hauptsächlich in der Halbleiterherstellung verwendet, um einheitliche dünne Folien wie Polysilicium, Siliziumnitrid,und Siliziumoxid bei niedrigem Druck für die Fertigung von Splittern.
2F: Was ist der Unterschied zwischen LPCVD und PECVD?
A: LPCVD verwendet thermische Aktivierung unter niedrigem Druck für hochreine Filme, während PECVD Plasma für eine schnellere, niedrigtemperaturförmige Ablagerung mit niedrigerer Filmqualität verwendet.
Tag: #LPCVD Oxidationsofen, #Uniform Thin-Film Deposition, #6inch/8inch/12inch, #Polysilicon, #Silicon Oxide