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Sic Substrat
Created with Pixso. 4H-SEMI SiC Substrat 2 Zoll Dicke 350µm 500µm Prime/Dummy Grade AR-Gläser Optische Güte

4H-SEMI SiC Substrat 2 Zoll Dicke 350µm 500µm Prime/Dummy Grade AR-Gläser Optische Güte

Markenbezeichnung: ZMSH
Modellnummer: SiC-Substrat
Lieferzeit: 2-4 Wochen
Zahlungsbedingungen: T/T
Einzelheiten
Herkunftsort:
China
Material:
SiC-Einkristall
Dia:
500,8 mm ± 0,38 mm
Grad:
P- oder D-Klasse
Dicke:
350 mm oder 500 mm
Orientierung:
Auf der Achse: <0001> +/- 0,5°
Widerstand:
≥1E5 Ω·cm
Hervorheben:

500um SiC-Substrat

,

SiC-Substrat der P-Klasse

,

2 Zoll SiC-Substrat

Produkt-Beschreibung

SiC-Wafer, Siliziumkarbid-Wafer, SiC-Substrat, Siliziumkarbid-Substrat, P-Güte, D-Güte, 2-Zoll-SiC, 4-Zoll-SiC, 6-Zoll-SiC, 8-Zoll-SiC, 12-Zoll-SiC, 4H-N, 4H-SEMI, 6H-N, HPSI-Typ, AR-Gläser, Optische Güte


Über 4H-SEMI SiC4H-SEMI SiC Substrat 2 Zoll Dicke 350µm 500µm Prime/Dummy Grade AR-Gläser Optische Güte 0

 

  • Verwendung von SIC-Monokristallen zur Herstellung

 

  • Unterstützung kundenspezifischer Produkte mit Design-Artwork

 

  • Hochwertig, geeignet für Hochleistungsanwendungen

 

  • Hohe Härte, etwa 9,2 Mohs

 

  • Weit verbreitet in High-Tech-Bereichen wie Leistungselektronik, Automobilelektronik und HF-Geräten


Beschreibung von 4H-SEMI SiC

 

Siliziumkarbid (SiC) ist ein vielseitiger Halbleiter, der für seine Leistung in Hochleistungs- und Hochfrequenzanwendungen bekannt ist.

Seine große Bandlücke ermöglicht einen effizienten Betrieb bei hohen Spannungen und Temperaturen und macht es für Leistungselektronik, HF-Geräte und raue Umgebungen geeignet.

 

SiC ist aufgrund seiner Zuverlässigkeit und Effizienz integraler Bestandteil von Industrien wie der Automobil- und Energieindustrie.

Fortschrittliche Herstellungsverfahren wie Chemical Vapor Deposition (CVD) und Physical Vapor Transport (PVT) gewährleisten hochwertige, langlebige Komponenten.

 

4H-SEMI SiC Substrat 2 Zoll Dicke 350µm 500µm Prime/Dummy Grade AR-Gläser Optische Güte 1

 

Die einzigartigen Eigenschaften von SiC machen es auch ideal für kurzwellige Optoelektronik, Hochtemperaturumgebungen, Strahlungsbeständigkeit und anspruchsvolle elektronische Systeme.

ZMSH bietet eine Reihe von SiC-Wafern an, darunter 6H- und 4H-Typen, egal ob N-Typ, SEMI-Typ oder HPSI-Typ, und gewährleistet durch groß angelegte Produktionsprozesse hohe Qualität, stabile Versorgung und Wirtschaftlichkeit.


 

Merkmale von4H-SEMI SiC

 

Spezifikation für 4-Zoll-Durchmesser 4H semi-isolierendes Siliziumkarbid-Substrat
SUBSTRATEIGENSCHAFT Produktionsgüte Dummy-Güte
Durchmesser 50,8,0 mm +0,0/-0,38 mm
Oberflächenorientierung on-axis: {0001} ± 0,2°
Primäre Flachorientierung <11-20> ± 5,0˚
Sekundäre Flachorientierung 90,0˚ CW von primär ± 5,0˚, Siliziumoberfläche nach oben
Primäre Flachlänge 32,5 mm ± 2,0 mm
Sekundäre Flachlänge 18,0 mm ± 2,0 mm
Waferkante Fase
Mikropipetendichte ≤5 Mikropipetten/cm2 ≤50 Mikropipetten/cm2
Polytypbereiche durch hochintensives Licht Nicht erlaubt ≤10% Fläche
Spezifischer Widerstand 0,015~0,028Ω·cm (Fläche 75%)
0,015~0,028Ω·cm
Dicke 350,0 μm ± 25,0 μm oder 500,0 μm ± 25,0 μm
TTV ≤10 μm ≤15 μm
BOW (Absolutwert) ≤25 μm ≤30 μm
Verzug ≤45 μm
Oberflächenbeschaffenheit Doppelseitiges Polieren, Si-Face CMP (chemisches Polieren)
Oberflächenrauheit CMP Si Face Ra≤0,5 nm N/A
Risse durch hochintensives Licht Nicht erlaubt
Kantensplitter/Einkerbungen durch diffuses Licht Nicht erlaubt Menge 2<1,0 mm Breite und Tiefe
Gesamt nutzbare Fläche ≥90% N/A
Hinweis: Kundenspezifische Spezifikationen, die von den obigen Parametern abweichen, sind zulässig.

 

 

Weitere Muster von 4H-SEMI SiC

4H-SEMI SiC Substrat 2 Zoll Dicke 350µm 500µm Prime/Dummy Grade AR-Gläser Optische Güte 2

*Bitte kontaktieren Sie uns, wenn Sie kundenspezifische Anforderungen haben.

 

 

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FAQ

1. Q:Wie stellt 4H-SiC Semi die Qualität seiner Wafer sicher?

A: 4H-SiC Semi verwendet fortschrittliche Fertigungstechniken, einschließlich Chemical Vapor Deposition (CVD) und Physical Vapor Transport (PVT), und befolgt strenge Qualitätskontrollprozesse, um hochwertige Wafer zu gewährleisten.

 

2. Q: Was ist der Hauptunterschied zwischen 4H-N SiC und 4H-SEMI SiC?

A: Der Hauptunterschied zwischen 4H-N SiC und 4H-SEMI SiC besteht darin, dass 4H-N SiC (Stickstoff-dotiert) ein n-Typ-Halbleiter-Siliziumkarbid ist, während 4H-Semi SiC semi-isolierendes Siliziumkarbid ist, das so verarbeitet wurde, dass es einen sehr hohen spezifischen Widerstand aufweist.



Tags: #
4H-SEMI, #SiC-Substrat, #2 Zoll, #Dicke 350um 500um, #Prime/Dummy-Güte, #AR-Gläser, #Optische Güte