Diese Ausrüstung ermöglicht das präzise Ausdünnen von 4"-12" zerbrechlichen Halbleitermaterialien einschließlich Silizium (Si), Siliziumcarbid (SiC), Galliumarsenid (GaAs) und Saphirsubstraten,mit einer Dickenregelungsgenauigkeit von ±1 μm und einer Gesamtdickenvariation (TTV) von ≤2 μm, um die strengen Anforderungen der Fertigung fortgeschrittener Verpackungen und Leistungseinrichtungen zu erfüllen.
Memorandum: Entdecken Sie das Wafer-Verdünnungs-System Präzisions-Verdünnungs-Ausrüstung, kompatibel mit 4-12 Zoll SiC, Si, GaAs und Saphir-Wafer.Erreichung einer Dickenkontrolle von ±1 μm und einer TTV von ≤2 μm für die Herstellung fortgeschrittener Verpackungen und Leistungseinrichtungen- Optimiert für breitband-Halbleiter wie SiC.
Zugehörige Produktmerkmale:
Präzisionsverdünnung für 4-12 Zoll spröde Halbleitermaterialien einschließlich Si, SiC, GaAs und Saphir.
Erreicht eine Dicke-Kontrollgenauigkeit von ±1 μm und TTV ≤2 μm.
Optimierte Schleifparameter und Polierverfahren für verschiedene Materialeigenschaften.
Integrierte automatisierte Echtzeitdickenüberwachung für eine stabile Leistung.
Anpassbare Vakuumspannlösungen für unregelmäßige Produkte.
Hochpräzises In-Feed-Spindel-Schleifen mit überlegener Bearbeitungsgenauigkeit.
Benutzerfreundliche Bedienung mit ergonomischer HMI und präziser Z-Achsen-Steuerung.
Unterstützt Vollautomatik- und Halbautomatik-Betriebsarten mit Echtzeit-Dickenmessung.
FAQ:
Unterstützt die Waferverdünnungsanlage die Anpassung?
Ja, wir bieten vollständig kundenspezifische Lösungen an, einschließlich Spezialspannfuttern für unregelmäßige Wafer und maßgeschneiderter Rezepturentwicklung.
Welche Dickenkontrolle können Waferverdünnungsmaschinen erreichen?
Welche Materialien sind mit dem Wafer-Verdünnungs-System kompatibel?
Das System ist mit spröden Halbleitermaterialien von 4-12 Zoll kompatibel, einschließlich Silizium (Si), Siliziumkarbid (SiC), Galliumarsenid (GaAs) und Saphirsubstraten.