Einzelheiten zu den Produkten

Haus PRODUKTE

Blinde des Grad-6Inch sic Stärke Substrat-der Oblaten-Dia150mm 4H-N 500mm

Markenbezeichnung:	zmsh
Modellnummer:	6inch-001
MOQ:	1pcs
Preis:	by case by FOB
Lieferzeit:	innerhalb 40days

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Produkt-Beschreibung

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Herkunftsort:

China

Anwendungen:

Gerät, geführt, 5G, Detektor, Leistungselektronik

Industrie:

semicondctor Oblate

Material:

Halbleiter sic

Farbe:

grün oder weiß oder blau

Härte:

9,0

Art:

4H, 6H, lackiert, NO-lackiert,

Verpackung Informationen:

Verpackt in einer Reinraumumwelt der Klasse 100, in den Kassetten einzelnen Oblatenbehältern

Versorgungsmaterial-Fähigkeit:

50pcs/months

Hervorheben:

sic Oblate

sic Substrat

Produkt-Beschreibung

6inch sic Substrate, 6inch sic Oblaten, sic Kristallbarren,

sic Kristallblock, sic Halbleitersubstrate, Silikon-Karbid-Oblate

6 Zoll Durchmesser, Silikon-Karbid-(sic) Substrat-Spezifikation
Grad		Nullmpd-Grad	Produktions-Grad	Forschungs-Grad	Blinder Grad

Durchmesser		150,0 mm±0.2mm

ThicknessΔ		350 μm±25μm oder 500±25un

Oblaten-Orientierung		Weg von der Achse: 4.0° in Richtung zu< 1120=""> ±0.5° für 4 H-N On die Achse: <0001> ±0.5° für 6H-SI/4H-SI

Primärebene		{10-10} ±5.0°

Flache hauptsächlichlänge		47,5 mm±2.5 Millimeter

Randausschluß		3 Millimeter

TTV/Bow /Warp		≤15μm/≤40μm/≤60μm

Micropipe-Dichte		cm2 ≤1	cm2 ≤5	cm2 ≤15	cm2 ≤100

Widerstandskraft	4H-N	0.015~0.028 Ω·cm

	4/6H-SI	≥1E5 Ω·cm

Rauheit		Polnisches Ra≤1 Nanometer

		CMP Ra≤0.5 Nanometer

Sprünge durch Licht der hohen Intensität		Kein		1 gewährt, ≤2 Millimeter	Kumulatives Länge ≤ 10mm, einzelnes length≤2mm

Hexen-Platten durch Licht der hohen Intensität		Kumulativer Bereich ≤1%		Kumulativer Bereich ≤2%	Kumulativer Bereich ≤5%

Polytype-Bereiche durch Licht der hohen Intensität		Kein		Kumulatives area≤2%	Kumulatives area≤5%

Kratzer durch Licht der hohen Intensität		3 Kratzer zur kumulativen Länge des Durchmessers 1×wafer		5 Kratzer zur kumulativen Länge des Durchmessers 1×wafer	5 Kratzer zur kumulativen Länge des Durchmessers 1×wafer


Randchip		Kein		3 gewährt, ≤0.5 Millimeter jeder	5 gewährt, ≤1 Millimeter jeder

Verschmutzung durch Licht der hohen Intensität		Kein

Weil der Kristall der Größe 6inch die &process (eingehüllt und polierend) technische Schwierigkeiten wachsen, können wir den blinden Grad 6inch als allgemeine Produkte in 30days gerade zur Verfügung stellen und Produktionen ordnen aber müssend für 90days aufgehoben werden.

Über unsere Firma

SHANGHAI BERÜHMTE GESCHÄFTSco., Ltd. findet in der Stadt von Shanghai, das die beste Stadt von China ist, und unsere Fabrik wird in Wuxi-Stadt im Jahre 2014 gegründet.

Wir spezialisieren uns, auf, eine Vielzahl von Materialien zu den Oblaten, zu Substraten und zu custiomized optischem Glas-parts.components zu verarbeiten, die auf Elektronik, Optik, Optoelektronik und vielen anderen Gebieten weitverbreitet sind. Wir auch haben nah mit vielen inländischen gearbeitet und Überseeuniversitäten, Forschungsinstitutionen und Firmen, stellen kundengebundene Produkt und Service für ihre R&D-Projekte zur Verfügung.

Es ist unsere Vision zum Beibehalten eines guten Verhältnisses von Zusammenarbeit mit unseren allen Kunden durch unsere guten reputatiaons.

Umbauten:

Gallium-Nitrid-Oblate

Saphir-Oblate

Sic Substrat

Saphir optisches Windows

IC-Siliziumscheibe

Synthetischer Saphir Rod

Fixierter Quarz-Platte

Saphir-Teile

Synthetischer Edelstein

Halbleiter-Ausrüstung

Oblate LiNbO3

GaAs-Oblate

Indium-Phosphid-Oblate

keramisches Substrat

Laborverpackung

Gallium-Nitrid-Oblate

Saphir-Oblate

Sic Substrat

Saphir optisches Windows

IC-Siliziumscheibe

Synthetischer Saphir Rod

Fixierter Quarz-Platte

Saphir-Teile

Synthetischer Edelstein

Halbleiter-Ausrüstung

Oblate LiNbO3

GaAs-Oblate

Indium-Phosphid-Oblate

keramisches Substrat

Laborverpackung

Einzelheiten zu den Produkten

Blinde des Grad-6Inch sic Stärke Substrat-der Oblaten-Dia150mm 4H-N 500mm

sic Oblate

sic Substrat

sic Oblate

sic Substrat

Silikonkarbidsubstrat

HPSI SiC Wafer 2-12 Zoll optischer Grad für AI/AR-Brille

Doppelseitig polierte SiC-Spiegel mit hoher Reinheit, optische Komponente für MEMS-Mikrospiegel