SHANGHAI FAMOUS TRADE CO.,LTD 86-1580-1942596 eric_wang@zmsh-materials.com
Dummy Grade  6Inch Sic Substrate Wafer Dia150mm 4H-N 500mm Thickness

Blinde des Grad-6Inch sic Stärke Substrat-der Oblaten-Dia150mm 4H-N 500mm

  • Markieren

    sic Oblate

    ,

    sic Substrat

  • Anwendungen
    Gerät, geführt, 5G, Detektor, Leistungselektronik
  • Industrie
    semicondctor Oblate
  • Material
    Halbleiter sic
  • Farbe
    grün oder weiß oder blau
  • Härte
    9,0
  • Art
    4H, 6H, lackiert, NO-lackiert,
  • Herkunftsort
    China
  • Markenname
    zmsh
  • Modellnummer
    6inch-001
  • Min Bestellmenge
    1pcs
  • Preis
    by case by FOB
  • Verpackung Informationen
    Verpackt in einer Reinraumumwelt der Klasse 100, in den Kassetten einzelnen Oblatenbehältern
  • Lieferzeit
    innerhalb 40days
  • Versorgungsmaterial-Fähigkeit
    50pcs/months

Blinde des Grad-6Inch sic Stärke Substrat-der Oblaten-Dia150mm 4H-N 500mm

6inch sic Substrate, 6inch sic Oblaten, sic Kristallbarren,

sic Kristallblock, sic Halbleitersubstrate, Silikon-Karbid-Oblate

 

6 Zoll Durchmesser, Silikon-Karbid-(sic) Substrat-Spezifikation  
Grad Nullmpd-Grad Produktions-Grad Forschungs-Grad Blinder Grad
Durchmesser 150,0 mm±0.2mm
ThicknessΔ 350 μm±25μm oder 500±25un
Oblaten-Orientierung Weg von der Achse: 4.0° in Richtung zu< 1120=""> ±0.5° für 4 H-N On die Achse: <0001> ±0.5° für 6H-SI/4H-SI
Primärebene {10-10} ±5.0°
Flache hauptsächlichlänge 47,5 mm±2.5 Millimeter
Randausschluß 3 Millimeter
TTV/Bow /Warp ≤15μm/≤40μm/≤60μm
Micropipe-Dichte cm2 ≤1 cm2 ≤5 cm2 ≤15 cm2 ≤100
Widerstandskraft 4H-N 0.015~0.028 Ω·cm
4/6H-SI ≥1E5 Ω·cm
Rauheit Polnisches Ra≤1 Nanometer
CMP Ra≤0.5 Nanometer
Sprünge durch Licht der hohen Intensität Kein 1 gewährt, ≤2 Millimeter Kumulatives Länge ≤ 10mm, einzelnes length≤2mm
Hexen-Platten durch Licht der hohen Intensität Kumulativer Bereich ≤1% Kumulativer Bereich ≤2% Kumulativer Bereich ≤5%
Polytype-Bereiche durch Licht der hohen Intensität Kein Kumulatives area≤2% Kumulatives area≤5%
Kratzer durch Licht der hohen Intensität 3 Kratzer zur kumulativen Länge des Durchmessers 1×wafer 5 Kratzer zur kumulativen Länge des Durchmessers 1×wafer 5 Kratzer zur kumulativen Länge des Durchmessers 1×wafer
Randchip Kein 3 gewährt, ≤0.5 Millimeter jeder 5 gewährt, ≤1 Millimeter jeder
Verschmutzung durch Licht der hohen Intensität Kein
Blinde des Grad-6Inch sic Stärke Substrat-der Oblaten-Dia150mm 4H-N 500mm 0
Weil der Kristall der Größe 6inch die &process (eingehüllt und polierend) technische Schwierigkeiten wachsen, können wir den blinden Grad 6inch als allgemeine Produkte in 30days gerade zur Verfügung stellen und Produktionen ordnen aber müssend für 90days aufgehoben werden.
 
 
Über unsere Firma
SHANGHAI BERÜHMTE GESCHÄFTSco., Ltd. findet in der Stadt von Shanghai, das die beste Stadt von China ist, und unsere Fabrik wird in Wuxi-Stadt im Jahre 2014 gegründet.
Wir spezialisieren uns, auf, eine Vielzahl von Materialien zu den Oblaten, zu Substraten und zu custiomized optischem Glas-parts.components zu verarbeiten, die auf Elektronik, Optik, Optoelektronik und vielen anderen Gebieten weitverbreitet sind. Wir auch haben nah mit vielen inländischen gearbeitet und Überseeuniversitäten, Forschungsinstitutionen und Firmen, stellen kundengebundene Produkt und Service für ihre R&D-Projekte zur Verfügung.
Es ist unsere Vision zum Beibehalten eines guten Verhältnisses von Zusammenarbeit mit unseren allen Kunden durch unsere guten reputatiaons.
Blinde des Grad-6Inch sic Stärke Substrat-der Oblaten-Dia150mm 4H-N 500mm 1Blinde des Grad-6Inch sic Stärke Substrat-der Oblaten-Dia150mm 4H-N 500mm 2Blinde des Grad-6Inch sic Stärke Substrat-der Oblaten-Dia150mm 4H-N 500mm 3